xrf定量分析法有哪两种？

一、xrf定量分析法有哪两种？

原理：用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射二次特征X射线，也叫X射线荧光。

这些X射线荧光的能量或波长是特征的，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。从而根据特征能量线鉴别元素的种类，根据谱线强度来进行定量分析。

XRF有波长散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)两种，前者测量精密度好，稳定性高，但结构复杂，价格昂贵，应用较受限，后者结构简单，价格低，但干扰元素多，且准确性低，目前还处在继续完善阶段。

二、xrf测试与化学测试的差异？

XRF测试本身是一种方法，即X射线荧光光谱法（XRF）原理是使用X射线照射样品产生的特征荧光，进行定性和定量分析。

化学检测即化学分析，是通过已知的、定量完成的化学反应完成检测。如重量分析法是根据化学反应生成物的重量求出被测组分含量的方法。

三、什么是光谱测金仪？

光谱测金仪是俗名，专业的说法是X荧光光谱能量色散检测仪，亦称XRF,设备其分析方法，是具有一定能量分辨率的X射线探测器同时探测样品所发出的各种能量特征X射线，探测器输出信号幅度与接收到的X射线能量成正比，利用能谱仪分析探测器输出信号的能量大小及强度，对样品进行定量，定性分析。此仪器是在贵金属行业的最顶端的技术。但有些这种仪器是要自己配电脑 的，有些是自动带电脑的。

四、样本分析的四种方法？

一、XRF法测主量元素

该测试方法流程包括烧失量的计算和玻璃熔融制样两大步骤：

（1）计算烧失量：先称取坩埚重量W1，加入大于3g的样品，称总重W2；将装有样品的坩埚在150℃下干燥3h 后再次称重W3；然后再放入900℃马福炉中3h，待降温至200℃以下取出样品；放入干燥器中，冷却后即称重 W4；样品干燥备用，通过公式（LQI）=（W2-W4）/（W2-W1）计算出样品的烧失量（LQI）。

（2）玻璃熔融法制样：完成步骤一后，将1g样品和7g四硼酸锂、0.1g溴化锂装入样品瓶中，混合均匀；然后将混合物倒入铂-金坩埚中，在1200℃下加热20min，将熔融样品倒入模型，冷却成玻璃样片后待测。

二、XRF法测微量元素

该方法的制样较为简单，样品直接用压饼法制备：称取（10.000±0.002）g的粉末样，装入样品袋；再加入适量（0.7～1mL）的混合剂，揉捏至混合均匀；然后将混合物装进模型中，在小油压机里以15 t的压力压成饼状；在100℃下干燥2 h后待测。

三、ICP-MS分析微量元素

先将粉末样（200目）100mg样品放入内胆为特福隆瓶的不锈钢溶样装置中，然后加入1mL 的 HF（38%）和 3mL 的 HNO3（68%），将溶样装置封闭后放入电烤箱中（190℃）恒温12h，取出冷却后打开溶样装置在电热盘上（150℃）蒸干，加入1mLHNO3后再度在电热盘上蒸干（150℃），加入 1mL 的 1μg·mL-1Rh 内标溶液和 1mLHNO3（40%）后再蒸干。残留物用8mLHNO3（40%）溶解，然后再度将溶样装置封闭后放入电烤箱中恒温（150℃）3h。冷却后用去离子水稀释溶样装置中的溶液，待测。

以上方法的样品分析在香港大学地球科学系ICP-MS研究实验室完成。XRF分析所用的仪器为Philips公司的PW2400型X荧光光谱仪，玻璃熔融法测主量元素用的标样为美国地质调查所USGS-SGR-1（页岩）和AGV-1（安山岩）；压饼法测微量元素所用的标样为USGS-BHVO-2（玄武岩）、BIR-1（玄武岩）和国家标准沉积物GSD-11（IGGE国家标准沉积物）；元素的分析精度为±2%。ICP-MS测试所用仪器为英国VG公司PQ Excell型号ICP-MS分析仪。标样为美国地质调查所USGS-SDO-1（页岩），元素的分析精度＜5%。考虑到本书

五、xrf检测用来做什么？

XRF测试的全称为X射线荧光光谱仪。XRF测试支持两种分析方式:定性分析和定量分析，定性分析的物理基础就是莫塞莱定律，通过不同元素的特征X荧光找到对应元素；定量分析是将未知样的荧光强度与用来建立校正曲线的标准样品的荧光强度和相对应的浓度建立相应关系，以此求得未知样的浓度。

六、XRf是什么意思？

XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)

人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。

X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。

X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，释放出来，电子的逐放会导致该电子壳层出现相应当电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子（如：L层）会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应当电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。这一个过程就是我们所说的X射线荧光（XRF）。