在中国,电压跌落测试的国家标准是《DL/T 813-2013 电力系统电压跌落和短时中断性能约束》。该标准规定了电力系统电压跌落和短时中断的性能约束,包括电力系统中各电压级别的电压跌落和短时中断的允许范围、测试方法和参数要求等内容。这个标准适用于电力系统的电压跌落和短时中断性能的评价和监督。
跌落应该是1.2m高度将电池不同面跌落,地面为大理石,电池不起火、不短路、不爆炸、不漏液等。还有Gb -18287-2000 UL1642锂电池安全标准
跌入试验的原理——将纸盒件按规定高度跌入于柔软、平坦的水平面上,审定纸盒件忍受横向冲击的能力和纸盒对内装物维护能力的试验。跌入试验,又名drop test/HG-318。
用来仿真产品在运送期间有可能经受到的跌入等。还包括:
(1)非纸盒状态产品在运送期间有可能遭受的权利跌入,样品通常按照规定的姿态从规定的高度跌入到规定的表面上。
(2)仿真阻抗电缆上的连接器、小型遥控装置等在用于中有可能遭受的重复权利跌入。
(3)纸盒跌入 1、 跌入高度
2、 跌入次数
3、 跌入表面
受限制因素
1、 高度 2、.样品外形(针对权利跌入)
跌落试验是对产品在使用过程中发生跌落或坠落时的耐受性进行测试的一种方法。在不同国家或地区,可能存在不同的跌落试验标准。以下是一些常见的国际和行业标准:
1. 国际电工委员会(IEC)标准:IEC 60068-2-31,IEC 60068-2-32
2. 美国标准:ASTM D5276-19,ASTM D880-18
3. 欧洲标准:EN 60068-2-31,EN 60068-2-32
4. 中国标准:GB/T 2423.8-2019
这些标准规定了跌落试验的测试条件、设备和程序,以及产品在跌落过程中应具备的耐受能力要求。具体选择哪个标准应根据产品所属行业和市场要求进行确定。建议您在进行跌落试验之前,查阅适用于您所在国家或地区的相关标准,以确保符合相应的法规和要求。
答:塑料瓶跌落测试高度国家标准:GB/T 2423.8 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落
裸机跌落测试参考测试标准:GB/T 2423.8,ISTA,IEC60068-2-32,GB-T4857.5等。
本测试通常是主要用来模拟产品在搬运期间可能受到的自由跌落,考察产品抗意外冲击的能力。通常跌落高度大都根据产品重量以及可能掉落机率做为参考标准,落下表面应该是混凝土或钢制成的平滑、坚硬的刚性表面(如有特殊要求应以产品规格或客户测试规范来决定)。 对于不同国际规范即使产品在相同重量下但掉落高度也不相同,对于手持型产品(如手机, MP3等)大多数掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等,IEC对于≦2kg之手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏,MIL则建议掉落高度为122cm,Intel对手持型产品(如手机)则建议落下高度为150cm。试验的严苛程度取决于跌落高度、跌落次数、跌落方向。在手机制造过程中,跌落测试是一项至关重要的测试。一旦手机上市后出现跌落易碎的情况,将会给用户带来不好的体验,并可能损害手机厂商的声誉。那么,手机厂商是如何进行跌落测试的呢?接下来,我们将详细介绍手机厂商在跌落测试方面的相关工作。
跌落测试是手机制造中非常重要的一环。手机在使用过程中不可避免会发生意外跌落,因此跌落测试可以评估手机在跌落情况下的耐用性和稳定性,以确保手机具有一定的抗跌落能力。通过跌落测试,手机厂商可以及时发现并解决手机在跌落情况下可能出现的问题,提高手机的品质和可靠性。
在手机制造过程中,跌落测试通常由质量控制部门或产品测试部门负责。质量控制部门的主要职责是监督和管理手机制造过程中的质量控制工作,包括跌落测试。产品测试部门则负责设计和执行手机的各项测试,其中就包括跌落测试。这两个部门共同合作,确保手机在跌落测试方面的工作顺利进行。
跌落测试通常分为以下几个步骤:
在进行跌落测试时,需要注意以下几点:
跌落测试在手机制造中起着举足轻重的作用,是确保手机品质和用户体验的重要环节。手机厂商在跌落测试方面需要严格按照测试标准进行工作,并保证测试结果的准确性和可靠性。只有通过不断的测试和改进,手机厂商才能生产出更加耐用和稳定的手机,赢得用户的信任和好评。
跌落实验国家有专门的标准,跌落方式都是一角、三边、六面之自由落体,至于跌落的高度是根据产品重量而定,有分90cm、76cm、65cm几个等级!
包装货物重量(lbs)/()落下高度(inches)/()
1~20.99lbs(0.45~9.54)0in/(76.20)
21~40.99lbs(9.55~18.63)24in/(60.96)
41~60.99lbs(18.64~27.72)18in/(45.72)
61~100lbs(17.73~45.45)2in/(30.48)
跌落测试标准
4.2跌落试验
4.2.1任务说明
该项目测试移动台结构强度,抗跌落破坏的能力,以降低返修率。
4.2.2测试方法
4.2.2.1参照标准
GB/T2423.8-1995,TestEd
4.2.2.2测试工具
跌落试验机,如无该设备,也可用手按照标准进行操作(需要一定经验)。
4.2.2.3测试参数
试验表面:水泥地或钢质板
跌落高度:
普通移动台120cm(关机状态)
100cm(开机状态)
特殊移动台80cm(关机状态)
60cm(开机状态)
跌落位置:10(4角6面)
测试应力:每个位置跌落1次,不同手机选择不同跌落位置(尽量选择易损坏方向)
测试样品数:3(研发样机试验)/5(鉴定试验)
注1:特殊移动台指大屏幕PDA移动台等(显示屏可见面积不小于机壳正面表面积40%或25cm2)。
4.2.3通过准则
表2跌落试验判定准则
测试后的判定准则
1无功能性的损坏,应仍能正常使用
2内部无破损,无脱落器件无功能性的损坏,应仍能正常使用
3外壳无破裂或者碎裂,轻微磨损和轻微裂纹是允许的
4关机跌落时电池允许脱离主体;开机跌落时,电池允许脱开不超过4次。
5上下盖不能移位,不能开口(能简单压合的上下盖开口现象允许)
6有翻盖的移动台,翻盖不能脱离主体
7天线无明显变形
4.3振动试验(移动台)
4.3.1任务说明
测试移动台受振动冲击性能。
4.3.2测试方法
4.3.2.1参照标准
GSM和PCS:GB/T2423.13-1997,TestFdb
CDMA:GB/T2423.10-1995,TestFc
4.3.2.2测试工具
随机振动台(GSM,PCS)/正弦振动台(CDMA)
4.3.2.3测试参数
GSM,PCS:
振动频率:5Hz~20Hz,ASD=0.96m2/s3(即0.01g2/Hz)
振动频率:20Hz~500Hz,在20Hz处ASD=0.96m2/s3,其他-3dB/倍频程
振动位置:3面(3个垂直面x,y,z)
持续时间:30分钟/面
CDMA:
扫描频率:5Hz~500Hz~5Hz;
振动参数:16Hz以下,A=3mm,16Hz以上,a=1.5g(加速度);
振动时间:30分钟/面(X,Y,Z共三个方向)
频率变化:0.1Octave/s
扫描方式:先单调升频,再单调下降
测试样品数:3台
注:振动中,移动台处于开机状态中,在振动中监视移动台的频率误差和相位误差。
4.3.3通过准则
表3振动试验判定准则
测试后的判定准则PASSFAIL
1按照附录A无功能性的损坏,应能正常使用
2按照附录B要求,检查频率和相位误差,指标必须在允许范围内。
3内部无破损,无脱落器件
4外壳无破裂或者碎裂,轻微磨损和轻微裂纹是允许的
裸机跌落测试参考测试标准:GB/T 2423.8,ISTA,IEC60068-2-32,GB-T4857.5等。 本测试通常是主要用来模拟产品在搬运期间可能受到的自由跌落,考察产品抗意外冲击的能力。
通常跌落高度大都根据产品重量以及可能掉落机率做为参考标准,落下表面应该是混凝土或钢制成的平滑、坚硬的刚性表面(如有特殊要求应以产品规格或客户测试规范来决定)。
对于不同国际规范即使产品在相同重量下但掉落高度也不相同,对于手持型产品(如手机, MP3等)大多数掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等,IEC对于≦2kg之手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏,MIL则建议掉落高度为122cm,Intel对手持型产品(如手机)则建议落下高度为150cm。试验的严苛程度取决于跌落高度、跌落次数、跌落方向。
一般跌落测试需要根据产品毛重来定,
华为的跌落测试标准一般是按照ISTA3A/B来定
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