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原子力显微镜原理?

时间:2024-08-17 10:40|来源:未知|作者:温变仪器|点击:0次

一、原子力显微镜原理?

利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力,从而达到检测的目的,具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体,也可以观察非导体,从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。原子力显微镜,一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。

二、原子力显微镜放大倍率?

原子力显微镜的放大倍数远远超过以往的任何显微镜:光学显微镜的放大倍数一般都超不过1000倍;电子显微镜的放大极限为10^6倍;而原子力显微镜的放大倍数能高达10^10倍,比电子显微镜放大能力高10^4倍。高的分辨率使原子力显微镜可直接观察物质的分子和原子,这就为人类对微观世界的进一步探索提供了理想的工具。

三、原子力显微镜相位图来源?

原子力显微镜Z早是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德·宾宁于1986年所发明的,原于力显微镜是一种利用原子分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术。因为原子力显微镜具有原子级别分辨率,被广泛应用于纳米尺寸及生命科学领域

四、原子力显微镜(AFM)的原理?

原子力显微镜/AFM的基本原理原子力显微镜/AFM的基本原理是:将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。

利用光学检测法或隧道电流检测法,可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化,从而可以获得样品表面形貌的信息。

五、原子力显微镜图像怎么看?

当探针和样品之间的距离达到可以检测到原子力的范围时,悬臂在其固有本征频率(f0)被激发,悬臂的共振频率(f)会偏离其原始共振频率(固有本征频率)。

换句话说,在可以检测到原子力的范围内,频移(df=f-f0)将被观察到。因此,当探针和样品之间的距离处于非接触区域时,随着探针和样品之间的距离变小,频移沿负方向增加。

六、原子力显微镜数据模糊怎么清除?

用干净的毛笔或者擦镜纸,擦干净即可

七、安捷伦原子力显微镜说明书?

安捷伦5500原子力显微镜是适用于学术和应用研究中的多功能扫描探针显微镜。能提供高清晰、高稳定性、且具有多样功能的SPM系统,而且可以较方便的实现成像的气氛控制、温度控制、液相(缓冲溶液、酸碱液)控制等。5500AFM/SPM是一套功能强大的多用户研究系统。具有原子分辨、独特的优势、能满足多样化的需求,轻松实现多模式、多功能精确成像,且使用简便、性能可靠。独特的钟摆平衡和上部扫描设计(无需样品移动、控制更优、制样更容易且苛刻环境下不易污染)、多用途扫描器(可提供开环和闭环功能):既能实现大范围的扫描,又具有极好的正交性和精度。

八、原子力显微镜属于电子显微镜吗?

是的,原子力显微镜属于电子显微镜的一种。电子显微镜是一类利用电子束来观察微观结构和表面形貌的仪器。原子力显微镜(Atomic Force Microscope,简称AFM)是其中的一种类型。与传统的透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM)和扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)不同,AFM是利用一个探针(或称探头)在样品表面上进行扫描,通过探针对样品表面的相互作用力测量来获取样品的拓扑(高度)图像和其他性质的数据。原子力显微镜广泛应用于材料科学、生物科学等领域。

九、原子力显微镜测杨氏模量原理?

原子力显微镜测量杨氏模量的原理:

设长为L、截面积为S的钢丝,在外力F作用下在长度方向伸长△L。

根据胡克定律,在弹性限度内,正应力F/S与拉伸应变 △L/L成正比,

结论:杨氏模量的大小仅取决于材料本身的性质,与材料的几何形状及所受外力的大小无关。

十、有什么关于原子力显微镜的介绍?

美国Anasys Instrumets的原子力显微镜afm+不仅可以分析表面形貌,

还可以提供热学性能: 即获得样品任何特征区域的转变温度或者转变温度的扫描成像图。

机械性能:通过洛伦兹接触共振模式能够提供宽频纳米机械分析

化学性能:如果你选择纳米红外光谱模块,则可以纳米尺度下表征试样化学组成。

如果你是做高分子材料微观结构表征,那就最适合了。

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